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服务简介

静电测试ESD是对芯片进行静电放电防护的测试，以验证其是否符合防静电设计指标和要求。通过此测试，可发现和解决芯片在设计和制造过程中存在的静电防护问题，以确保其在实际使用过程中能够安全可靠。
-模拟因人体在地上走动磨擦或其他因素，在人体上已累积了静电，当此人去碰触到芯片时，人体上的静电便会经由芯片的pin脚进入芯片内，再经由芯片放电到地去，瞬间产生的电流可能造成芯片的损毁。
-模拟机器设备本身累积了静电，当此机器去碰触到芯片时，该静电便经由芯片的pin脚放电。因机械等效电阻为0奧姆，因此瞬间产生的电流更大，对芯片的破坏力也强,一芯片先因磨擦或其他因素而在内部家积了静电，但在静电家积的过程中并未被损伤，当此带有静电的芯片在使用时，其pin脚碰触到接地面时，芯片内部的静电便会经由pin脚自芯片内部流出来。而造成了放电的现象。
-暌间电流被锁定或者放大，而造成芯片在电源与对地之间造成短路，而因为大电流损伤芯片。由于目前半导体电路设计密度越来越高，电压或电流的瞬间变化对于芯片的损伤也越趋严重,

适用测试标准:协助客户通过JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准，
适用产品范围:集成电路芯片、品体管、MOS管.等。
常规样品要求:以具体标准为准。

检测项目:
-人体静电测试(HBM，Human Body Model)

-机械静电测试(MM，Machine Model)

-充电放电测试(CDM，Charged Device Model)

-门锁效应(Latch-up)
-传输线脉冲(TLP，Transmission Line Pulse)

技术参数

静电测试ESD

实验室解决方案